Fichier:Silicon dislocation orientation 111 mag 500x 2.png
Silicon_dislocation_orientation_111_mag_500x_2.png (768 × 576 pixels, taille du fichier : 574 kio, type MIME : image/png)
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Date et heure | Vignette | Dimensions | Utilisateur | Commentaire | |
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actuel | 13 septembre 2005 à 02:17 | 768 × 576 (574 kio) | Twisp | * Title: Dislocation in Si crystal, orientation 111 * Desc: Image of dislocation in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the triangular (pyramidal) shape of the dislocation. * Auth |
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