Electron diffraction pattern (red) of a polycrystalline Al film, with an fcc spiral overlay (green) to facilitate search for a line of intersections (blue) which confirms the fcc nature and provides a measure of the cubic lattice parameter as well. See also P. Fraundorf and Shuhan Lin (2004) "Spiral powder overlays", Microscopy and Microanalysis10:S2, 1356-1357 and the January 2005 Microscopy Today13: 8-11.
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