Fichier:Fib tem sample.jpg
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Date et heure | Vignette | Dimensions | Utilisateur | Commentaire | |
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actuel | 3 février 2007 à 16:36 | 1 024 × 800 (205 kio) | EdC | {{Information |Description=SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling. |Source=English wikipedia |Date=9 March 2006 |Author=english User:Cm the p |Permission= |other_versions= }} [[category:Focused Ion Bea |
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