Tests système

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Les tests système de logiciel ou de matériel réfèrent à un processus de test d'un système intégré afin d'évaluer sa conformité aux exigences spécifiées. Les tests système appartiennent à la classe des tests de type boîte noire, et en tant que tels, ne devraient exiger aucune connaissance de la conception interne du code ou de la logique[1].

En règle générale, les tests système prennent comme entrée tous les composants logiciels "intégrés" (ayant réussi les tests d'intégration) mais aussi le système logiciel lui-même intégré à n'importe quel système(s) matériel(s) compatible(s). Le but des tests d'intégration est de détecter d'éventuelles incohérences entre les unités logicielles intégrées ensemble (appelés assemblages) et entre les assemblages et le matériel. Les tests système sont un type plus restreint de test, ils cherchent à détecter des défauts à la fois dans les "inter-assemblages" mais également au sein du système dans son ensemble.

Test de l'ensemble du système[modifier | modifier le code]

Les tests système sont réalisées sur la totalité du système dans le contexte de Spécifications Fonctionnelles des Besoins (SFB) et/ou de Spécifications Techniques des Besoins (STB). Les tests système vérifient non seulement la conception, mais également le comportement et les attentes présumées du client. Ils sont également destinés à réaliser des tests aux limites définies dans les spécifications du logiciel/matériel mais également par-delà ces limites.[citation nécessaire]

Typologie des tests système[modifier | modifier le code]

Les exemples suivants représentent différents types de tests qui doivent être envisagés lors de tests système :

Bien que différents organismes de test peuvent prescrire des jeux de tests différents comme faisant partie des tests système, cette liste sert de cadre général ou de base de travail.

Articles connexes[modifier | modifier le code]

Références[modifier | modifier le code]

  1. IEEE Standard Computer Dictionary: A Compilation of IEEE Standard Computer Glossaries; IEEE; New York, NY.; 1990.